负温度系数热敏电阻公司服务为先「至敏电子」

热敏电阻老化及热时间常数自动测试装置，包括高温水槽机构、低温水槽机构、样品位置切换机构、自动给水单元和测量及控制单元，两水槽机构之间设有样品位置切换机构，两水槽机构分别连接一自动给水单元，测量及控制单元电连接样品。

根据权利要求1 所述的热敏电阻老化及热时间常数自动测试装置，其特征在于，所述高温和低温水槽机构包括水槽、处理器、信号调理模块和温度采样模块，温度采样模块采集的水温信号经过信号调理模块后传送给处理器，处理器依据该信号进行水温控制保证水槽处于恒温状态。

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热敏电阻老化及热时间常数自动测试装置，其特征在于，所述样品位置切换机构从下往上依次包括伸缩气缸、摆动气缸和样品支撑平台。热敏电阻老化及热时间常数自动测试装置，其特征在于，所述测量及控制单元包括下位机、AD 转换模块、程控采样电阻阵列、和上位机，上位机向下位机传送控制指令，下位机依据控制指令对伸缩气缸、摆动气缸进行控制以及在程控采样电阻阵列中作电阻串联组合，得到的电阻串联组电连接样品；负温度系数热敏电阻公司


热敏电阻器，

负温度系数热敏电阻器的制备方法，按下列步骤进行：将烧结的陶瓷块体材料正反两面涂烧银电极，采用镀锡铜线为引线，环氧树脂封装后即得热敏电阻器；热敏电阻出界前需求以150°C - 200°C延续老化3天之上，才选择相符货物质量的热敏电阻。

[0008] a、尔百分比：Mn ∶ Ni ∶ Co ∶ Pb ＝ 44.将步骤b5-51 ∶ 1.5 ∶ 46 ∶ 1.5-8 分别称取分析纯原料Mn3O4、Co3O4、Ni2O3、PbO 粉体置于球磨罐中，

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热敏电阻(1) 具有：至少包含Mn、Ni 和Ti中的1 种的半导体陶瓷材料组成的陶瓷体(4)、形成在所述陶瓷体(4) 的表面的外部电极(5)、以及形成在所述外部电极(5) 的表面的镀膜(6)，其中，将所述半导体陶瓷材料中包含的Mn 的莫尔量表示为a、Ni 的莫尔量表示为b 时，Mn 与Ni 的莫尔比为55/45 ≤ a/b ≤ 90/10，而且将所述半导体陶瓷材料中Mn 和Ni 的总莫尔量取为100 份莫尔时，含有的Ti 在大于等于0.5 份莫尔且小于等于25.0 份莫尔的范围。负温度系数热敏电阻公司